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2024

7-11

掃描電鏡的使用者都不愿意遇到的一大類試樣就是導(dǎo)電不良的樣品，比如聚合物薄膜、玻璃、陶瓷等，由于這些試樣電導(dǎo)率都較低，尤其是玻璃，甚至低于10-10S/m，由此帶來(lái)的荷電效應(yīng)問(wèn)題，使得我們想要得到一張高質(zhì)量的SEM圖難度較大，今天我們就來(lái)聊一聊如何解決此類問(wèn)題。首先，進(jìn)入大部分用戶腦海的肯定是“鍍金”一詞，即采用離子濺射儀在試樣表面鍍上一層薄薄的金屬膜，改善導(dǎo)電性，但其中的問(wèn)題是Pt/Au顆粒尺寸一般是納米級(jí)，如Pt顆粒尺寸一般是2~3nm，但是由于真空度的影響，在較低的真空下...

2024

7-10

場(chǎng)發(fā)射電鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用有哪些？

場(chǎng)發(fā)射電鏡是一種利用場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度、細(xì)聚焦的電子束來(lái)掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)從樣品表面散射出來(lái)的電子信號(hào)來(lái)獲取高分辨率圖像的顯微鏡。在半導(dǎo)體工業(yè)中，場(chǎng)發(fā)射電鏡的應(yīng)用非常廣泛，主要包括以下幾個(gè)方面：1、缺陷分析：它可以用于觀察半導(dǎo)體材料和器件中的微觀缺陷，如晶格缺陷、位錯(cuò)、層錯(cuò)等。這些缺陷可能會(huì)影響半導(dǎo)體器件的性能和可靠性，因此對(duì)其進(jìn)行精確分析至關(guān)重要。2、納米結(jié)構(gòu)表征：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，納米尺度的結(jié)構(gòu)越來(lái)越多地被應(yīng)用于器件制造中。也能夠提供納米級(jí)別的高分辨率圖像，...

2024

7-7

FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)是如何工作的？

FIB雙束電鏡是利用電磁透鏡將離子束聚焦成非常小的點(diǎn)，然后用這個(gè)點(diǎn)在樣品上進(jìn)行掃描，通過(guò)檢測(cè)二次電子或背散射電子信號(hào)來(lái)獲取樣品表面信息的設(shè)備。常用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、生命科學(xué)等領(lǐng)域中的微觀分析、刻蝕和沉積等操作。FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)對(duì)于其正常運(yùn)作至關(guān)重要，因?yàn)楦哒婵窄h(huán)境可以保證離子束和電子束不會(huì)與氣體分子發(fā)生相互作用，從而避免束流散射和能量損失，確保成像和加工的精確性。下面是FIB雙束電鏡真空系統(tǒng)的一般工作原理：1、初級(jí)泵抽：?jiǎn)?dòng)時(shí)，首先會(huì)使用機(jī)械泵或旋片泵進(jìn)行初級(jí)抽...

2024

7-4

sem掃描電鏡用于哪些科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域的研究？

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過(guò)收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌和成分信息的顯微鏡。sem掃描電鏡具有高分辨率、大景深、簡(jiǎn)便的樣品制備等優(yōu)點(diǎn)，因此在許多科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。1、材料科學(xué)：在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，包括金屬材料、陶瓷材料、高分子材料、復(fù)合材料等。通過(guò)使用，可以觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、相分布、缺陷等，從而為材料的性能優(yōu)化和新材料的設(shè)計(jì)提供重要信息。2、冶金學(xué)：在冶金學(xué)領(lǐng)域主要用于研究金屬和合金的微觀結(jié)構(gòu)、相變、...

2024

6-29

聚焦離子束電鏡可以用于哪些場(chǎng)合？

聚焦離子束電鏡是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像。具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效等特點(diǎn)。具有特殊的樣品制備和三維成像能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。聚焦離子束電鏡的主要應(yīng)用：1.定點(diǎn)剖面形貌和成分表征：通過(guò)精確控制離子束的位置和能量，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品特定區(qū)域的精確切割和分析。2.TEM樣品的制備：該產(chǎn)品是制備超薄樣品截面的理想選擇，為透射電子顯微鏡(TEM)分析提供高質(zhì)量的樣品。3.微納結(jié)構(gòu)的處...

2024

6-16

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在環(huán)境科學(xué)研究中的應(yīng)用

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種使用場(chǎng)發(fā)射電子源的高性能掃描電鏡。它具有高分辨率和深景深的優(yōu)點(diǎn)，能夠提供納米級(jí)別的表面形貌和成分信息。在環(huán)境科學(xué)研究中，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的應(yīng)用非常廣泛，以下是一些主要的應(yīng)用場(chǎng)景：1、顆粒物分析：它可以用于分析空氣或水中的顆粒物，如灰塵、煙霧、泥沙等。通過(guò)觀察顆粒物的形貌、大小和聚集狀態(tài)，可以研究其來(lái)源、傳輸和沉積過(guò)程，從而為污染控制和治理提供依據(jù)。2、污染物分析：也可以用于檢測(cè)和分析環(huán)境中的污染物，如重金屬、有機(jī)污染物等。通過(guò)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)...

2024

6-13

鎢燈絲掃描電鏡在使用時(shí)有哪些注意事項(xiàng)？

鎢燈絲掃描電鏡是一種使用細(xì)聚焦的電子束來(lái)掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)從樣品表面反射的二次電子和背散射電子來(lái)產(chǎn)生圖像的顯微鏡。在使用鎢燈絲掃描電鏡時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)：1、樣品準(zhǔn)備：確保樣品適合在高真空環(huán)境中觀察，不含有易揮發(fā)或易分解的成分。樣品應(yīng)該干凈、干燥，并且具有良好的導(dǎo)電性。非導(dǎo)電樣品可能需要涂覆一層導(dǎo)電材料(如金、鉑或碳)。2、樣品安裝：小心地將樣品安裝在樣品臺(tái)上，確保其穩(wěn)固且不會(huì)在成像過(guò)程中移動(dòng)。避免直接觸摸樣品表面，以免造成污染或損壞。3、真空條件：在啟動(dòng)之前，確保樣...

2024

6-10

賽默飛電子顯微鏡在哪些領(lǐng)域或行業(yè)中被廣泛使用？

賽默飛電子顯微鏡是一種利用電子束取代光學(xué)方式進(jìn)行成像的顯微鏡，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、物理學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域，是各種科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)中重要的工具之一。賽默飛電子顯微鏡在多個(gè)領(lǐng)域和行業(yè)中有廣泛的應(yīng)用：1、材料科學(xué)：用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)，包括金屬、陶瓷、塑料、復(fù)合材料等。通過(guò)使用可以觀察材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、相界面等。2、納米技術(shù)：在納米科技領(lǐng)域，它是研究納米材料、納米器件和納米結(jié)構(gòu)的強(qiáng)有力工具。它可以幫助科學(xué)家觀察和分析納米尺度上的物質(zhì)特性。3、生物學(xué)和醫(yī)學(xué)：在生物...

2024

6-7

如何正確操作掃描電鏡顯微鏡以獲得清晰的圖像？

掃描電鏡顯微鏡是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌和成分信息的顯微鏡。為了獲得清晰的圖像，以下是一些操作步驟和注意事項(xiàng)：1、樣品準(zhǔn)備：首先，確保樣品適合用于掃描電鏡顯微鏡觀察。樣品應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性，對(duì)于非導(dǎo)電樣品，需要進(jìn)行金屬或碳的涂層處理以增強(qiáng)導(dǎo)電性和減少充電。樣品的大小和形狀應(yīng)適合樣品艙。2、加載樣品：將樣品放置在樣品臺(tái)上，確保樣品固定穩(wěn)定，避免在掃描過(guò)程中移動(dòng)。關(guān)閉樣品艙，抽真空。3、設(shè)定參數(shù)：在控制軟件中設(shè)置適...

2024

5-31

透射掃描電子顯微鏡的概述

透射掃描電子顯微鏡由透射電子顯微鏡(TEM)發(fā)展而來(lái)，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場(chǎng)發(fā)射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點(diǎn)而出現(xiàn)的一種新型分析方式，其空間分辨率可達(dá)亞埃米級(jí)，可在納米和原子尺度上對(duì)材料微結(jié)構(gòu)與精細(xì)化學(xué)組分的表征與分析。在冶金、材料、環(huán)境科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域具有很大的應(yīng)用潛力。透射掃描電子顯微鏡使用高亮度的冷電子光源，匯聚成極細(xì)的電子探針后對(duì)樣品進(jìn)行掃描，然后收集穿過(guò)樣品的電子，同時(shí)在樣...

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