你的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 電子顯微鏡 >
產(chǎn)品展示-
- Axia ChemiSEM賽默飛掃描電鏡
賽默飛掃描電鏡Axia ChemiSEM，采用方法進(jìn)行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托優(yōu)良鏡筒技術(shù)，保持系統(tǒng)始終處于狀態(tài)。
- 訪問(wèn)量：9308
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
-
- Apero 2高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搭載實(shí)時(shí)元素成像功能和優(yōu)良的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專(zhuān)注于研究本身。
- 訪問(wèn)量：13331
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
-
- Helios 5 Laser PFIB聚焦離子束電鏡
Thermo Scientific Helios 5 Laser 聚焦離子束電鏡提供了優(yōu)良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。
- 訪問(wèn)量：7669
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
-
- Helios 5 DualBeam聚焦離子束顯微鏡
聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn)：高材料對(duì)比度，快、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。
- 訪問(wèn)量：7069
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
-
- Apreo ChemiSEM賽默飛場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡標(biāo)配能譜助力材料分析
賽默飛場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡標(biāo)配能譜助力材料分析，Thermo Scientific™ Apreo ChemiSEM™ 場(chǎng)發(fā)射電 鏡是高性能與高質(zhì)量成像優(yōu)選。它集成了元素成分與結(jié)構(gòu)分析于一體的自動(dòng)工作流程，讓不同經(jīng)驗(yàn)的用戶都能輕松獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)。Apreo ChemiSEM為大型研究機(jī)構(gòu)和工業(yè)客戶提供適用于各種樣品與不同經(jīng)驗(yàn)水平用戶的集成的分析技術(shù)與完整的分析結(jié)果。
- 訪問(wèn)量：729
- 更新日期：2025-11-21 ￥面議
-
- Quattro環(huán)境真空掃描電鏡
Quattro SEM環(huán)境真空掃描電鏡為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
- 訪問(wèn)量：6041
- 更新日期：2023-03-28 ￥面議
